6220 型直流电流源和 6221 型交流和直流电流源将易用性与极低的电流噪声相结合。 在测试环境中，从研发到生产，尤其是在半导体、纳米技术和超导体行业，低电流源对于应用至关重要。 6220 型和 6221 型具有高精度源和内置控制功能，非常适合使用增量模式、脉冲测量和微分电导测量的霍尔测量、电阻测量等应用。

连接时，2182A 型和 6220 或 6221 型可以如同一台仪器一样运行。2182A/622X 组合是电阻测量、脉冲式 I-V 测量和微分电导测量的理想工具，比其他解决方案具有更显著的优势。2182A/622X 组合也非常适合许多纳米技术应用，因为它测量电阻时可以不消耗被测器件 (DUT) 的太多功率，否则可能会导致结果无效，甚至损坏 DUT。

双通道 2182A 型纳伏表进行稳定的低噪声电压测量，以及适合可靠且重复地检定低阻材料和器件。 相比其他低电压测量解决方案，其测量速度更快，噪声性能显著提高。 它提供简化的增量模式，适用于结合反向电流源（如 6220 或 6221 型号）进行电阻测量。

从三个敏感选项中选择，实现精确的高阻抗和低电流测量。5½ 位 6514 型和 6517B 型静电计提供 1fA 灵敏度，输入阻抗 200TΩ 的电压测量，以及低至 10fC 的电荷测量。6½ 位 6430 型亚 fA 远程 SourceMeter SMU 仪器能够以 1aA 的灵敏度测量电流。其噪声低、偏差小，非常适用于研究单电子器件、高电阻纳米线和纳米管、聚合物以及电化学应用。

开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要全面的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪（代替原晶体管图示仪）支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和高功率脉冲IV曲线测量。

2606B 高密度系统 SourceMeter (SMU) 仪器在 1U 高的机箱中提供四条 20 瓦 SMU 通道。 由于制造商需要优化占地空间并减少测试时间和成本，2606B 将密度提高 3 倍、提高吞吐量并尽量减少增加测试设备机架的需求。 此 SMU 为测试激光二极管、LED、2 和 3 端子半导体等生产的理想解决方案。