采样示波器

简要描述：为较具挑战的系统设计提供信号高保真度。当前高速电路使得信号路径检定和BER分析的挑战性进一步提高。由于较高的TDR带宽、较快速的S参数测量功能及全面支持光学标准测试，DSA8200采样示波器提供了完整的高速物理层测试平台。

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详细介绍

品牌	TeKtronix/美国泰克	产地类别	进口
应用领域	综合

为较具挑战的系统设计提供信号高保真度
当前高速电路使得信号路径检定和BER分析的挑战性进一步提高。由于较高的TDR带宽、较快速的S参数测量功能及全面支持光学标准测试，DSA8200数字串行分析仪提供了完整的高速物理层测试平台。

DSA8200采样示波器概述

功能	优点
最多4个真实差分通道	利用真实的差分TDR激励信号准确地检测非线性设备，如放大器。
高带宽（50 GHz）时域反射仪	以12 ps 的入射级将阻抗不连续性分解至 1mm。
光学模块噪声低，光学灵敏度高，拥有消光比校准功能及宽波长。	通过一个光学测试解决方案，满足8.5Gb/s - 40Gb/s所有主要标准。
IConnect® 信号完整性	利用集成的TDR和S参数测量减少由测试治具信号降级引起的测量错误。
串行数据网络分析 (SDNA)	通过一个仪器进行时域和频域分析来降低测试成本。准确地分析信号通路以预测信号串扰和抖动，确保可靠的系统运行。
串行数据链路分析 (SDLA)	通过抖动、噪声和BER分析确定眼闭的准确原因。通过快速评估各种FE/DFE均衡设置增加接收器的眼睁时间。
远程采样头	通过将TDR头接近被测试设备来优化信号保真度和减小探头、电缆及测试治具的影响。

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