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C测试仪

简要描述:C测试仪 3504-40
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
C、D 2项目测试 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容 测试源频率: 120Hz, 1kHz 高速测量: 2ms RS-232C

  • 产品型号:3504-40
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2024-10-30
  • 访  问  量:125

详细介绍

品牌HIOKI/日本日置应用领域综合

C测试仪 3504-40

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
C、D 2项目测试 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容 测试源频率: 120Hz, 1kHz 高速测量: 2ms RS-232C

● 高速测量2ms ● 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
● 对应测试线,比较器功能/触发输出功能
● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
● 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
● 查出全机测量中的接触错误,提高成品率

输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件


    • 概要

    • 规格

    • 选件

    • 相关下载





      基本参数

      测量参数Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ)
      测量范围C:0.9400pF~20.0000mF
      D:0.00001~1.99000
      基本精度(代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
      ※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B~E为各系数
      测量频率120Hz, 1kHz
      测量信号电平恒压模式: 100mV (仅限3504-60), 500 mV, 1 V
      测量范围:
      CV 100mV:~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
      CV 500mV: ~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
      CV 1V: ~ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
      输出电阻(CV测量范围以外的开路端子电压模式时)
      显示发光二级管 (6位表示,满量程计算器根据量程而定)
      测量时间典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
      ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
      功能BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口(标配), GP-IB接口(3504-40除外)
      电源AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大110VA
      体积及重量260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
      附件电源线×1,预备电源保险丝×1,使用说明书×1
      PC 通讯器
      • C测试仪
        GP-IB连接线9151-02

        2m长

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      打印机
      • C测试仪
        打印机 9442

        数码打印

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      • C测试仪
        AC适配器9443-02

        适用于打印机9442

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      • C测试仪
        连接电缆 9444

        适用于9442, 线长:1.5 m

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      • C测试仪
        记录纸 1196

        112mm x 25m, 10卷/盒

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      测试冶具或电缆
      • C测试仪
        SMD测试治具9699

        用于底部有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5

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      • C测试仪
        SMD测试治具9677

        用于侧面有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:3.5mm±0.5mm

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      • C测试仪
        SMD测试治具9263

        直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm

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      • C测试仪
        测试治具9262

        DC~8 MHz, 直接连接型

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      • C测试仪
        测试治具9261

        电缆连接型, DC ~ 5 MHz, 1m长

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      • C测试仪
        镊形探头L2001

        线长73cm,DC~8MHz,50Ω,前端电极间隔:0.3~6mm

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      • C测试仪
        4端子测试探头 9140

        DC~100kHz, 1m长

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      最shi用于分拣·检查的电容测试仪电容测试仪 3506-10 ·模拟测量时间0.5ms(1MHz)的高速测量·抗干扰性提高,微小电容的反复精度大幅提高·使用1MHz稳定测量低容量电容电容测试仪 3504-60,3504-50,3504-40 · 模拟测量时间1ms(1kHz)可测量定电压,最shi用于测量高容量MLCC ·可测量高达1.45mF的高容量定电压(120Hz,500mV时) ·3504-60可进行4端子接触检查。

      3506-10, 3504-60, 3504-50, 3504-40共通优点共通优点 

      ■对应JIS C 5101-1的电容测试仪3506~3504的测量频率电容的种类去除电解电容的电容容量范围C C≤1000pF 1000pF<C≤10µF测量频率[Hz]

       ●记号为推荐频率1M对应机型 

      ● 3506-10 1k ● 120 10µF<C电解电容 

      ■ BIN功能---C测量根据测量值最多分类为14个等级※1,易于进行分拣等。※1  3506,3505最多为13个等级。3504-40无BIN功能。 

      ● 120 ○ 

       ■ 只需选择的简单操作&LED显示3504-60 3504-50 3504-40 3511-50 (参考)只需从面板标记项目中进行选择,操作简单。设定好的测量条件会点亮,能够一目了然把握设定条件。 

      ■ 比较器功能第一参数(C)、第2参数(D)可各自设置上下限值。判定结果可进行蜂鸣、LED显示以及外部输出,设定值始终显示。 

      ■ 存储功能测量数据可保存在主机。可通过GP-IB,RS-232C读出。 3506-10 ......................................1,000个 3504-60, 3504-50, 3504-40 ......32,000个 

      ■ 触发同步输出功能施加触发后输出测量信号,仅在测量时将信号施加到被测物上。因为是在接触被测物时流过大电流,因此能够减少接点的损耗。 

      ■可存储99※2组测量条件最多可保存99组测量条件,可迅速对应在重复测量较多的产线上切换被测物的情况。可利用EXT I/O读出任意测量条件。※2  3506-10最多为70组。 

      ■标配接触检查功能可检测出测量过程中的接触错误。可另外管理有过接触错误的样品,对提高成品率做出贡献。

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